ระบบบริหารจัดการความรู้มหาวิทยาลัย

รายละเอียดบทความ

» หน้าหลัก » บทความการแลกเปลี่ยนเรียนรู้ทั่วไป » วิทยาศาสตร์ เทคโนโลยี » เกร็ดความรู้ » รายละเอียดบทความ

ตอนที่ 1 : ข้อมูลผู้เขียนบทความ

รหัสอ้างอิง : 977
ชื่อสมาชิก : สุรศักดิ์ กุยมาลี
เพศ : ชาย
อีเมล์ : Surasak_k@mju.ac.th
ประเภทสมาชิก : บุคลากรภายใน [สังกัด]
ลงทะเบียนเมื่อ : 9/3/2555 17:51:34
แก้ไขล่าสุดเมื่อ : 9/3/2555 17:51:34

	URL สำหรับอ้างอิงถึงหน้านี้
	https://e-manage.mju.ac.th/acticleDetail.aspx?qid=729&blog=true

ตอนที่ 2 : ระดับความชอบที่ผู้อ่านมีต่อบทความนี้

ชอบ 0 คน ไม่ชอบ 0 คน

ตอนที่ 3 : รายละเอียดบทความ

เทคนิคการวิเคราะห์วัสดุ

ข้าพเจ้า อ.ดร.สุรศักดิ์ กุยมาลี พนักงานมหาวิทยาลัย ตำแหน่ง อาจารย์ สังกัดหลักสูตรวิทยาศาสตรบัณฑิต สาขาวิชาเคมีอุตสาหกรรมและเทคโนโลยีสิ่งทอ ขอนำเสนอประโยชน์จากการเข้าร่วมการประชุมวิชาการประจำปีของสมาคมจุลทรรศน์แห่งประเทศไทย ครั้งที่ 34 (The 34th Annual Conference of the Microscopy Society of Thailand) ระหว่างวันที่ 31 พฤษภาคม ถึง 2 มิถุนายน 2560 ณ โรงแรมแกรนด์ เมอร์เคียว กรุงเทพ ฟอร์จูน จังหวัดกรุงเทพมหานคร ซึ่งการเข้าร่วมประชุมวิชาการดังกล่าว ข้าพเจ้าได้สรุปเนื้อหาและการนำไปใช้ประโยชน์ของการเข้าร่วมประชุมวิชาการ ดังต่อไปนี้ สามารถเพิ่มพูนความรู้ในเรื่องเทคนิคการวิเคราะห์และเครื่องมือวิเคราะห์ขั้นสูง โดยในปัจจุบันมีการพัฒนาเทคนิคในการวิเคราะห์งานทางด้านวิทยาศาสตร์กายภาพ วัสดุศาสตร์ ตลอดจนการศึกษาทางด้านวิทยาศาสตร์ชีวภาพ ด้วยเทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) จุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (TEM) สำหรับการวิเคราะห์โครงสร้างของวัสดุทั้งในระดับไมโครเมตรและนาโนเมตร ด้วยเทคนิคแบบรูปการเลี้ยวเบนของอิเล็กตรอนแบบเลือกพื้นที่( SADP) และแบบรูปการเลี้ยวเบนอิเล็กตรอนแบบมุมสอบ (CBED) ในกล้อง TEM การวิเคราะห์โครงสร้างของวัสดุด้วยเทคนิคการเลี้ยวเบนของอิเล็กตรอนกระเจิงกลับ (EBSD) ในกล้อง SEM เทคนิเทคนิคการเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์ (XRD) การวิเคราะห์โครงสร้างหรือพื้นผิวด้วยเทคนิค Soft X-ray photoelectron spectroscopy (SXPS) ตลอดจนเทคนิคการวิเคราะห์ธาตุองค์ประกอบด้วยเทคนิคการกระจายพลังงานของรังสีเอกซ์ (EDS) และการกระจายความยาวคลื่นของรังสีเอกซ์ (WDS) เป็นต้น นอกจากนี้ยังได้เพิ่มพูนความรู้ด้านการเตรียมตัวอย่างสำหรับการวิเคราะห์ เช่น เทคนิค Focus ion beam (FIB) โดยใช้แหล่งกำเนิดไอออนจากฮีเลียมซึ่งได้มีการพัฒนามาจากแกลเลียม ทั้งนี้สามารถเตรียมตัวอย่างได้รวดเร็วขึ้นขึ้นและเสียค่าใช้จ่ายในการดูแลรักษาที่ต่ำลง

คำสำคัญ :
กลุ่มบทความ : บทความการแลกเปลี่ยนเรียนรู้ทั่วไป
หมวดหมู่ : วิทยาศาสตร์ เทคโนโลยี
สถิติการเข้าถึง : เปิดอ่าน 3012 ครั้ง | แสดงความคิดเห็น 0 ครั้ง

วันที่เขียน 7/9/2560 13:40:07 แก้ไขล่าสุดเมื่อ 20/4/2567 19:57:48

ตอนที่ 4 : รายการความคิดเห็นทั้งหมดที่มีต่อบทความนี้

ไม่มีข้อมูลตามเงื่อนไขที่ท่านกำหนด